
XU-100是一款设计结构紧凑,精密化程度高的镀层测厚仪,C型开槽设计样品腔,让其满足了既可测量超微小样品的检测,同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统
2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm
3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测层Ni和第三层Ni的厚度)
4)配备高精密微型移动滑轨,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测
5)可同时分析23个镀层,24种元素,测量元素范围:Cl(17)- 铀U(92),涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92),涂镀层低检出限:0.005μm
6)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作
7)标配φ0.1mm准直器,小测量面积可达0.01mm²
8)配有微光聚集技术,近测距光斑扩散度10%
1. 清晰化操作界面布局
简约的布局设计,可令操作员快速的掌握软件基本操作。
2. 程式快捷键按钮设计
增加了日常镀层程序快捷键设计按钮,无需进入程序库挑选,便可快速检测,提升工作效率。
3. 高清可视化窗口
可以清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过独有的变焦调节旋钮,达到用户
理想的观测效果。
4. 多通道数字谱图界面
清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合先进的解谱技术,便可精准计算出结果。
5. 仪器数据实时监测数据汇总
可一目了然的观测到仪器所有数据,有任何异常,系统都将时间提醒,大大降低操作失误。