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XTU系列X荧光光普测厚度

发布时间:2021-04-02 10:22:27
XTU系列X荧光光普测厚度

   XTU系列X荧光光普测厚度

  仪器简介

XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺度的工作也可以超过测试.

配搭微聚焦射线管和较先进的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。  

检测78种元素镀层·0.005um检出限·较小测量面积0.002m·较深凹糟可达90mm。

外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精密0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,较小再多的样品都没难度,让操作人员轻松自如。

应用领域

·线路板,引线框架及电子元器件接插件检测

·度纯金,K金,铂,银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

·手表,精密仪表制造行业

·钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Cu/Ni/FeNdB

·汽车,五金,电子产品等紧固件的表面处理检测

·卫浴产品,装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

·电镀液的金属阳离子检测

  性能优势

·下照式设计:可以快熟方便地定位对焦样品。

·无损变焦检测:可对各种异性形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm

·为聚焦射线装置:可检测面积小于0.002m㎡的样品,可测试个微小的部件。

高效率的接收器:即使测试0.01m㎡         以下的样品,几秒钟也能达到稳定性

·精密微型滑轨:快速定位样品

·EFP先进算法软件:

多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件

技术参数

元素分析范围:(cl)~铀(U)

厚度分析范围:各种元素及有机物

一次性同时分析:23层镀层,24种元素

厚度较低出限:0.005um

较小测量面积:0.002m㎡(多重准值器可选)

对焦距离:0~90mm(测试凹槽,可变焦)

样品腔尺寸:500mm×360mm×215mmC型设计,允许测试超出样品腔板状物体)

仪器尺寸:550mm×480mm×470mm

仪器重量:55

 
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